3. Microscope à force atomique et microscopies de force
Le microscope à force atomique (AFM : Atomic Force Microscope) est né en 1986 du besoin d’imager tous types d’échantillons, pas seulement les conducteurs et semi-conducteurs, en sondant des forces entre pointe et surface . Par mesure et contrôle de ces forces, un microscope adapté devrait permettre d’imager la topographie de la surface et aussi d’étudier d’autres phénomènes physiques à l’échelle nanométrique. L’AFM, basé sur cet objectif, emprunte à la technologie du STM le système de déplacements nanométriques et de régulation du déplacement relatif pointe-surface à force constante (en place du courant...
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Microscope à force atomique et microscopies de force
Microscope optique en champ proche
Sources bibliographiques
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