Conclusion
Spectrométrie d'émission optique à source étincelle (partie 2)

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Conclusion
Spectrométrie d'émission optique à source étincelle (partie 2)

Auteur(s) : Raymond MEILLAND

Date de publication : 10 décembre 2005 | Read in english

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5. Conclusion

5.1 Méthodes concurrentes

Parmi les techniques d’analyse des échantillons métalliques massifs, on distingue les méthodes classiques telles que la spectrométrie à décharge luminescente ou la fluorescence de rayons X, et les techniques déjà commercialisées mais encore faiblement implantées telles que la spectrométrie d’émission optique à source laser.

  • La spectrométrie à décharge luminescente (SDL)

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