5. Conclusion
La CEM composant est un domaine qui s’est tout d’abord fortement développé pour répondre au besoin grandissant de caractériser et de comparer les performances CEM des circuits intégrés. Plusieurs méthodes ont ainsi été normalisées pour l’émission, l’immunité, les impulsions et continuent d’évoluer pour s’adapter à l’évolution des technologies (gamme de fréquences des circuits eux-mêmes et gamme de fréquences des besoins CEM des secteurs industriels). Depuis les années 2000 les aspects modélisation de ces circuits ont également été abordés et commencent également à faire l’objet de standards internationaux. Les premières normes relatives à la modélisation de l’émission conduite sont d’ores et déjà disponibles, et plusieurs projets en cours devraient aboutir à l’état de standard à horizon 2016 (émission rayonnée et immunité conduite). Ces modèles sont une réponse évidente aux besoins des industriels...
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