1. Contexte
L'intérêt grandissant des communautés scientifiques pour le domaine des ondes millimétriques (30 à 300 GHz) et submillimétriques (300 GHz à 3 THz) présage un développement d'applications novatrices de l'électronique rapide et de l'optique. Toutefois, cette partie du spectre reste relativement inemployée en raison notamment d'une technologie très délicate et pas toujours maîtrisée. Ces développements et transferts vers l'industrie ne pourront s'accomplir sans être accompagnés d'une étude du comportement électromagnétique des matériaux utilisés à ces fréquences extrêmes et de la validité d'une imagerie active. Dans ce contexte, la spectro-imagerie térahertz répond à cette problématique. Elle apporte une potentialité de contraste optique novateur, sensible aux niveaux vibrationnels et rotationnels des matériaux. L'aspect spectroscopique dans ce domaine de fréquence peut dès lors mener à une caractérisation très large bande et à une identification unique des matériaux ou d´échantillons. De plus, le très fort pouvoir pénétrant de ces ondes permet d'envisager une visualisation d'objets invisibles en surface, en volume ou opaques dans le visible. Nous rappelons dans...
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