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EnglishAuteur(s)
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René MICOLET :
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Lire l’articleINTRODUCTION
Notations et symboles
Introduction
1 Structure d'un transistor MOS
2 Fonctionnement d'un transistor MOS
2.1 Équations de base et modèle simplifié
2.11 Tension de seuil NMOS
2.12 Caractéristiques statiques du NMOS
2.13 Capacités parasites et modèle simplifié
2.2 Effets correcteurs
3 Technologies de réalisation
3.1 Technologie NMOS
3.2 Technologie CMOS caisson (N-well)
3.3 Variantes
4 Structures intégrées logiques
4.1 Inverseur NMOS
4.2 Inverseur CMOS
4.3 Oscillateur en anneau et temps de propagation
4.4 Cellules intégrées simples
5 Structures intégrées analogiques
5.1 Amplificateurs
5.2 Filtres à capacités commutées
6 Mémoires
6.1 Différentes catégories
6.2 Structure matricielle des mémoires à accès aléatoire
6.3 Point mémoire RAM statique (SRAM)
6.4 Point mémoire RAM dynamique (DRAM)
6.5 Point mémoire ROM
7 Sécurité de fonctionnement
7.1 Dispersion des caractéristiques
7.2 Protection des grilles des MOS d'entrée
7.3 Verrouillage des CMOS (latch-up)
7.4 Rayonnement α (noyaux d'hélium)
7.5 Courant d'avalanche
8 Taux de défauts et rendements
9 Circuits intégrés MOS : évolution
Bibliographie
VERSIONS
- Version courante de févr. 2000 par Thomas SKOTNICKI
DOI (Digital Object Identifier)
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