Présentation
RÉSUMÉ
L’objectif de cet article est de présenter un état de l’art sur la méthodologie de développement en CEM. Les étapes de l’approche, qui vont permettre d’identifier les risques CEM au travers de « l’analyse préventive » et de les traiter tout au long du développement, sont décrites ici.
Les règles de l’art, en termes d’interactions avec la mécanique et le routage, sont également abordées. Celles-ci doivent permettre d’éviter les erreurs majeures de conception. L’utilisation de la modélisation et de la simulation en CEM est aussi abordée pour donner un état de l’art des capacités dans le domaine.
Enfin, les aspects importants relatifs aux essais CEM sont abordés pour maîtriser, d’une part, leurs reproductibilités et, d'autre part, pour assurer la cohérence avec la conception et les besoins de l’équipement.
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Lire l’articleAuteur(s)
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Frédéric LAFON : Maître Expert CEM - Responsable de la discipline CEM à VALEO, Créteil, France
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Kevin LOUDIERE : Ingénieur CEM - Chargé d’expertise et innovation CEM à VALEO, Créteil, France
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Marine HEULARD-STOJANOVIC : Experte CEM - Chargée d’expertise et innovation CEM à VALEO, Créteil, France
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Priscila FERNANDEZ-LOPEZ : Experte CEM - Responsable de l’activité expertise et innovation CEM à VALEO, Créteil, France
INTRODUCTION
La conception en Compatibilité Electromagnétique (CEM) est un art compliqué à l’interface entre différentes disciplines comme l’électronique, les hyperfréquences, l’électromagnétisme ou la mécanique. Il est donc important pour le concepteur de s’appuyer sur une méthodologie de travail qui va lui permettre d’intégrer ces contraintes hétérogènes. Les étapes de cette méthodologie vont lui permettre de mettre en place et de justifier des spécifications de conception basées sur un savoir-faire et des outils de modélisation et de simulation. En fin de conception, il faudra de plus définir précisément les outils et méthodes de qualification dans le « Plan de Test » de façon à garantir la représentativité et la répétabilité des essais.
Le point de commencement du routage d’une carte électronique est l’analyse de la place qui lui est réservée à l’intérieur d’une mécanique existante. Cette mécanique pouvant être ou non métallique, il faut savoir utiliser ces propriétés pour améliorer le comportement de la carte électronique vis-à-vis des émissions de perturbation électromagnétique en haute fréquence ainsi que des agressions extérieures.
Le routage de la carte électronique est aussi guidé par des règles de sécurité électrique (directive basse tension) qui introduisent des notions d’isolement galvanique.
Le nombre de couches allouées dans la carte guide le choix d’utilisation d’un plan de masse complet ou d’un maillage. De plus, les circulations de courant dans ce plan de masse ont un impact sur les règles de ségrégation entre les fonctions génératrices de perturbations, comme l’électronique numérique rapide, et celles qui seront sensibles comme les fonctions analogiques bas niveau. Une grande importance doit être apportée à la conception de ce plan qui apporte une protection nécessaire tant en émission qu’en immunité.
Cependant l’utilisation des règles génériques de routage ne garantit pas d’obtenir les performances requises en CEM. Qui plus est, du fait de contraintes autres que CEM, ces règles génériques ne sont généralement pas applicables sans dérogation. La modélisation, le calcul et la simulation sont les voies les plus appropriées pour valider des choix de routage ou des dimensionnements de filtrages. Des exemples de modèles équivalents de composants sont présentés et exploités afin de décrire cette démarche.
Le Plan de Test CEM est le document sur lequel est basé l’ensemble des essais CEM. Il doit permettre la réalisation d’une campagne de qualification en éliminant les risques liés à une mauvaise interprétation du cahier des charges ou une mauvaise mise en œuvre d’un moyen d’essai. Pour ce faire, il comporte un grand nombre d’informations spécifiques à l’équipement à qualifier, comme une description du fonctionnement du produit ou des événements redoutés. De plus, il doit contenir le plus possible d’information permettant de garantir la reproductibilité des essais, en particulier la description de l’environnement comme le banc de charge ou les différents faisceaux.
Les non-conformités en CEM ont des conséquences critiques telles que l’augmentation du nombre d’itérations et de prototypes, des délais pour la mise sur le marché des produits et des coûts additionnels pour des solutions correctives bien souvent non optimisées car intégrées tardivement dans le développement. La prise en compte et l’anticipation des problématiques de CEM est donc absolument nécessaire et nous proposons dans cet article une démarche intégrable dans un processus de développement opérationnel. Les activités décrites doivent permettre de réduire ces risques de non-conformité, tout en apportant une maîtrise des performances de CEM facilitant également les résolutions de problèmes, le cas échéant.
VERSIONS
- Version archivée 1 de févr. 2012 par François DE DARAN, Frédéric LAFON, Thierry SEGOND
DOI (Digital Object Identifier)
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Présentation
7. Conclusion
La conception en CEM des produits électronique est une activité complexe qui demande beaucoup d’interactions avec plusieurs activités et disciplines majeures. Nous en avons décrit certaines dans cet article. Nous pouvons espérer qu’à l’ère de la digitalisation et du développement de l’intelligence artificielle certaines de ces activités puissent être plus systématisées voir automatisées. Cette transformation a déjà commencé et devrait changer fondamentalement la manière dont un ingénieur en CEM doit travailler dans les prochaines années.
Les contraintes de CEM qui doivent être considérées évoluent également dans la plupart des secteurs d’activité. En lien avec le développement du spectre des fréquences pour les nouvelles bandes de la 6G notamment, ou simplement pour couvrir de nouveaux risques amenés par de nouvelles fonctions électroniques, nous continuons à observer une extension des gammes des fréquences à couvrir. Cela impacte évidemment la normalisation, qui travaille sur l’extension des gammes de fréquence pour certaines méthodes, ou travaille pour en développer de nouvelles plus appropriées.
Les produits et les électroniques évoluent et amènent également de nouvelles problématiques. Le développement des véhicules et de systèmes autonomes (tel que dans l’automobile) amènent également de nouvelles thématiques à traiter. La testabilité en CEM de ces systèmes et le lien à renforcer avec la sureté de fonctionnement sont autant de sujets à traiter et qui sont au cœur des travaux actuels des comités de normalisation. Il est donc espéré et attendu d’apporter des réponses concrètes à ces questions en 2027 ou en 2028.
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BIBLIOGRAPHIE
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(1) - LAFON (F.) - Développement de techniques et de méthodologies pour la prise en compte des contraintes CEM dans la conception d’équipements du domaine automobile. Étude de l’immunité du composant à l’équipement. - Ph. D INSA de Rennes (2011).
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(2) - Commission Électrotechnique Internationale - CEI 61967-2:2005 – Circuits intégrés – Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz – Partie 2 : Mesure des émissions rayonnées – Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande - (2005).
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(3) - Commission Électrotechnique Internationale - CEI 61967-4:2021 – Circuits intégrés – Mesure des émissions électromagnétiques – Partie 4 : Mesure des émissions conduites – Méthode de couplage direct 1 ohm/150 ohms - (2021).
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(4) - Commission Électrotechnique Internationale - CEI 62132-4:2006 – Circuits intégrés – Mesure de l’immunité électromagnétique, 150 kHz à 1 GHz – Partie 4 : Méthode d’injection directe de puissance RF - (2006).
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DANS NOS BASES DOCUMENTAIRES
NORMES
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Circuits intégrés – Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz – Partie 2 : Mesure des émissions rayonnées – Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande - IEC 61967-2 - 2005
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Circuits intégrés – Mesure des émissions électromagnétiques – Partie 4 : Mesure des émissions conduites – Méthode de couplage direct 1 ohm/150 ohms - IEC 61967-4 - 2021
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Integrated circuits Measurement of electromagnetic immunity 150 kHz to 1 GHz Part 4: Direct RF power injection method - IEC 62132-4 - 2006
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Circuits intégrés – Mesure de l'immunité électromagnétique – Partie 8 : Mesure de l'immunité rayonnée – Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré - IEC 62132-8 - 2012
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Vehicles, boats, and internal combustion engines – Radio disturbance characteristics – Limits and methods of measurement for the protection of on-board receivers - CISPR 25 5th Edition - 2021
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