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  • Article de bases documentaires
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  • 10 déc. 2025
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  • Réf : P2128

Voltampérométrie sur électrode solide

Les techniques différentielles ou à impulsions sont des variantes de la voltampérométrie sur électrode solide, dans lesquelles le potentiel appliqué est modulé selon une forme spécifique pour améliorer la détection du courant faradique tout en réduisant la composante du signal liée au courant capacitif. Cet article décrit les principales techniques ( votampérométrie impulsionnelle normale, voltampérométrie à impulsions surimposées d’amplitude constante ou croissante et voltampérométrie différentielle à onde carrée) qui offrent une amélioration cruciale de la sensibilité de la mesure, une meilleure résolution et un meilleur rapport signal/bruit.

  • Article de bases documentaires
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  • 10 juil. 2025
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  • Réf : R2385

Technologie des capteurs de gaz à semi-conducteurs

Les microcapteurs de gaz ont un très gros intérêt industriel de par leur faible encombrement, leur faible consommation, leur faible coût, ce qui permet de les déployer en réseau distribué. Les capteurs de gaz à oxydes métalliques semiconducteurs, bien qu’ayant des performances limitées par rapport à des analyseurs, font partie des capteurs les plus commercialisés avec les capteurs électrochimiques et optiques. Cet article couvre le fonctionnement de ces capteurs, les principaux matériaux utilisés avec leur mécanisme de détection, ainsi que les techniques de conception, de fabrication, de caractérisation et d'étalonnage. Sont également abordées les pistes de recherche actuelles autour des nez électroniques, ainsi que les perspectives associées.

  • Article de bases documentaires
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  • 10 sept. 2025
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  • Réf : R6747

L’analyse combinée XRR-GIXRF sans référence pour les couches minces

La propriété des éléments à émettre un rayonnement caractéristique, suite à une excitation par rayons X ou fluorescence X, est exploitée à des fins de quantification. Les équations décrivant cette interaction lumière-matière sont rappelées, ainsi que les conditions expérimentales nécessaires pour s’affranchir du besoin d’étalons de référence. La fluorescence X peut aussi être exploitée en la combinant avec la réflectivité X pour l’étude des couches minces d’épaisseur nanométrique. L’approche présentée ici exploite les données fondamentales dont les enjeux de justesse et d’incertitudes associés sont abordés dans un souci métrologique. 

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