Glossaire

Afm : définition

Microscope en champ proche qui, à l'échelle des atomes et des molécules, permet d'obtenir l'image d'un échantillon en balayant sa surface à l'aide d'une sonde qui, placée à quelques nanomètres de celle-ci, capte les forces répulsives ou attractives des électrons. Le microscope d'analyses AFM permet des variations dimensionnelles de structure et de manipuler des particules de matière.
Contenus associés

Articles de références et fiches pratiques à propos de : AFM : définition

Microscopie à force atomique (AFM)
Réf : R1394

La microscopie à force atomique a connu un développement rapide. La technologie de cette sonde locale, basée sur la mesure des forces entre un fin stylet…

Le microscope à force atomique métrologique
Réf : NM7050

Cet article décrit le contexte du développement et la mise en œuvre d’un microscope à force atomique métrologique. C’est un instrument de référence, traça…

Actualités associées

Articles d'actualité à propos de : AFM : définition

Article TI
A ne pas manquer : le congrès C'Nano 2023 !

C'Nano 2023 est la 5ème édition du congrès interdisciplinaire dans les nanosciences. Il se déroulera du 15 au 17 mars au Palais des Congrès du Futuroscope…

Article TI
Black Friday 2019

A l'occasion du Black Friday, Techniques de l'Ingénieur vous ouvre gratuitement un article de chaque base documentaire le 29 novembre 2019 !

Inscrivez-vous aux newsletters !

Contactez-nous