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Force atomique

Force atomique dans actualités

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Force atomique dans les livres blancs


Force atomique dans les conférences en ligne


Force atomique dans les ressources documentaires

  • Article de bases documentaires
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  • 10 janv. 2000
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  • Réf : AM3280

Imagerie de surface de polymères : microscopie à force atomique

La microscopie à force atomique fait partie de la famille des microscopies à sonde locale... de celle-ci qui est le reflet de l’interaction sonde-surface. Pour le microscope à force atomique, la sonde est une pointe... métallique et l’image est obtenue par détection des forces d’interaction entre les atomes de la pointe... et ceux de la surface. Actuellement, il existe plusieurs types de microscopie à force atomique que l’on peut regrouper...

Les articles de référence permettent d'initier une étude bibliographique, rafraîchir ses connaissances fondamentales, se documenter en début de projet ou valider ses intuitions en cours d'étude.

  • Article de bases documentaires
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  • 10 août 2013
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  • Réf : NM7050

Le microscope à force atomique métrologique

décrit le contexte du développement et la mise en œuvre d’un microscope à force atomique métrologique. C... microscopy. Mots-clés : microscopie à force atomique, nanométrologie dimensionnelle, état de l’art,... , le microscope à force atomique (AFM, pour atomic force microscope ) est devenu au fil du temps un instrument... de traçabilité fait intervenir un microscope à force atomique métrologique (figure  2 ). C’est un instrument...

Les articles de référence permettent d'initier une étude bibliographique, rafraîchir ses connaissances fondamentales, se documenter en début de projet ou valider ses intuitions en cours d'étude.

  • Article de bases documentaires
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  • 10 juin 2005
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  • Réf : R1394

Microscopie à force atomique (AFM)

La microscopie à force atomique a connu un développement rapide. La technologie de cette sonde... des applications de la microscopie à force atomique. La microscopie à force atomique (AFM : « atomic force... entre les atomes de la pointe AFM et ceux de la surface, à des forces de Van der Waals à courte portée... atomique est utilisé en mode contact et les forces appliquées sont de l’ordre de 100 pN. La figure  22...

Les articles de référence permettent d'initier une étude bibliographique, rafraîchir ses connaissances fondamentales, se documenter en début de projet ou valider ses intuitions en cours d'étude.

  • Article de bases documentaires : FICHE PRATIQUE
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  • 07 août 2012
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  • Réf : 0765

Quels sont les phénomènes en jeu dans un assemblage ?

Dans votre projet de conception, une ou plusieurs étapes font appel à l’assemblage. Vous souhaitez bien comprendre les phénomènes en jeu afin de mieux en contrôler le process ?

Cette fiche, la première d’une série consacrée à l’assemblage, vous donne l’essentiel des notions préliminaires dont la maîtrise est indispensable. Elle reste volontairement large, afin d’être applicable quels que soient les matériaux et la technologie utilisée.

Vous saurez ainsi :

  • identifier les paramètres clés intervenant dans l’assemblage ;
  • comprendre pourquoi un adhésif adhère à un substrat ;
  • reconnaître la mouillabilité d’un substrat et la compatibilité des adhésifs.

Un outil incontournable pour comprendre, agir et choisir- Nouveauté !

  • Article de bases documentaires : FICHE PRATIQUE
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  • 23 nov. 2012
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  • Réf : 1092

La veille en temps réel

La prolifération des contenus informationnels sur les réseaux sociaux et plates-formes de microblogging, l’explosion de la navigation web mobile et la banalisation des smartphones ont contribué à faire de la veille dite « temps réel » une nécessité, surtout dans le domaine de la surveillance de l’e-reputation. La veille en temps réel permet ainsi de recueillir immédiatement ce qui se dit d’une entreprise, d’une marque ou encore d’une personne, dans les nombreux espaces de conversation sur Internet. Mais cette notion de temps réel est parfois floue, et il convient de différencier les outils. Cette fiche présente un panorama des outils de veille en temps réel et de leurs principales fonctionnalités.

Toutes les clefs pour maitriser la veille technologique

  • Article de bases documentaires : FICHE PRATIQUE
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  • 03 avr. 2015
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  • Réf : 1469

La mole et le système international d’unités (SI)

La métrologie est la « science des mesures et ses applications » (VIM §2.2). En fait, historiquement, la métrologie avait plutôt un but politique : il s’agissait d’instaurer un système unique d’unités de mesure qui régulerait les activités techniques et économiques d’un pays. C’est en Chine, durant le 2siècle avant JC, qu’aurait eu lieu la création d’un premier système unique de mesure et de monnaie. Aujourd’hui, on parle de système international d’unités ou SI car la grande majorité des pays l’ont adopté. Il existe cependant quelques persistances obsolètes, comme le gallon ou le mile aux États-Unis, ou le baril pour les pétroliers et le degré Celsius en chimie.

Si vous êtes dans un laboratoire accrédité, régulièrement audité par le CoFRAC, la norme ISO 17025 vous demande « d’assurer la traçabilité des étalonnages et des mesurages effectués par le laboratoire par rapport au système international d’unités (SI) ». En conséquence, il n’est pas inutile de se pencher sur la façon dont fonctionne le SI.

Les fiches pratiques répondent à des besoins opérationnels et accompagnent le professionnel en le guidant étape par étape dans la réalisation d'une action concrète.


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