- Article de bases documentaires
|- 10 août 2013
|- Réf : NM7050
décrit le contexte du développement et la mise en œuvre d’un microscope à force atomique métrologique. C... microscopy. Mots-clés : microscopie à force atomique, nanométrologie dimensionnelle, état de l’art,... , le microscope à force atomique (AFM, pour atomic force microscope ) est devenu au fil du temps un instrument... de traçabilité fait intervenir un microscope à force atomique métrologique (figure 2 ). C’est un instrument...
Les articles de référence permettent d'initier une étude bibliographique, rafraîchir ses connaissances fondamentales, se documenter en début de projet ou valider ses intuitions en cours d'étude.
- ARTICLE INTERACTIF
|- 10 juin 2023
|- Réf : P895
Cet article traite de la microscopie en champ proche ou à sonde locale. Ce type de microscopie est basé sur la détection d'une propriété physique en surface (tel un courant électrique, une force, des photons) à l'échelle locale. Son principe est très différent de celui des microscopes classiques, une pointe vient sonder les informations à l’extrême surface de l'échantillon. La technique a considé...
Les bases documentaires des Techniques de l'Ingénieur couvrent tous les grands domaines de l'ingénierie. Lancez votre recherche, affinez-là, obtenez vos réponses !
- Article de bases documentaires
|- 10 juin 2005
|- Réf : R1394
La microscopie à force atomique a connu un développement rapide. La technologie de cette sonde... des applications de la microscopie à force atomique. La microscopie à force atomique (AFM : « atomic force... entre les atomes de la pointe AFM et ceux de la surface, à des forces de Van der Waals à courte portée... atomique est utilisé en mode contact et les forces appliquées sont de l’ordre de 100 pN. La figure 22...
Les articles de référence permettent d'initier une étude bibliographique, rafraîchir ses connaissances fondamentales, se documenter en début de projet ou valider ses intuitions en cours d'étude.