Après une brève introduction théorique des caractéristiques des faisceaux gaussiens, cet article décrit l’évolution de ces faisceaux à travers un dispositif optique (système centré). Une linéarisation du formalisme des faisceaux gaussiens introduit l’outil matriciel afin d’exploiter rapidement la loi des rayons de courbure. Divers exemples (évolution en espace libre, focalisation par une lentille, agrandisseur de faisceau) sont ensuite proposés pour traiter ce formalisme matriciel à travers cette loi des rayons de courbure. Des applications (photothérapie, microscopie, pince optique) et une mise en lumière du potentiel des beamlets gaussiens terminent cet article.
Cet article présente les techniques capables de détecter et de modifier la polarisation ferroélectrique à l’échelle nanométrique dans les matériaux monocristallins ou déposés en couches minces, en mettant l’accent sur l’une d’entre elles : la microscopie de force piézoélectrique (PFM), dérivée de la microscopie à force atomique (AFM). La technique y est décrite en détails : ses différents modes opératoires, ses forces et ses faiblesses, ainsi que les artefacts qui peuvent compliquer l’interprétation des données. Des conseils de bonnes pratiques sont donnés afin de permettre aux utilisateurs non spécialistes de tirer le meilleur parti de ce type de microscopie.
Les microscopies à force atomique - AFM - et électronique à balayage - MEB - sont aujourd’hui des techniques très répandues pour la caractérisation des nano-objets. Afin d’obtenir des mesures fiables à ces échelles, la traçabilité et l’évaluation des incertitudes associées à ces mesures sont primordiales. Pour les utilisateurs de ces techniques, un des moyens de connaitre les capacités métrologiques de leurs instruments est de participer à une comparaison interlaboratoire. L’organisation d’une telle comparaison à l’échelle nationale ainsi que ses résultats et conclusions sont rapportés dans cet article. Ce travail a été réalisé dans le cadre du Club nanoMétrologie, une initiative française créée par le LNE et le C’Nano – CNRS.
Vous allez définir un plan de contrôle, mais le résultat de certaines opérations de contrôle ne permet pas de déterminer le niveau de conformité du produit. C’est dans ce type de cas précisément que définir, construire et exploiter une défauthèque peut apporter la solution.
Amélioration des performances, Certification ISO 9001, Management intégré...
Vous utilisez des produits chimiques sur vos sites et vos salariés sont potentiellement exposés à ces produits, avec un risque d’atteinte à long terme sur leur organisme. Les reins sont les premiers organes ciblés par une atteinte toxique sur l’organisme. Cette fiche vous permettra de mieux cerner les atteintes aux reins, en répondant notamment aux questions :
Les fiches pratiques répondent à des besoins opérationnels et accompagnent le professionnel en le guidant étape par étape dans la réalisation d'une action concrète.
La réglementation sur l’amiante demande que des équipements de protection respiratoire soient portés par les salariés en fonction du niveau d’empoussièrement et de l’évaluation des risques. Pour cela, il faut que l’employeur choisisse des modèles d’équipements de protection dont l’efficacité permette de garantir que la concentration d’amiante dans l’air respiré par le salarié soit inférieure à la valeur limite d’exposition professionnelle (VLEP). Cette fiche permet de faire le point sur le choix de ces équipements.
Les fiches pratiques répondent à des besoins opérationnels et accompagnent le professionnel en le guidant étape par étape dans la réalisation d'une action concrète.
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