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X ray reflectivité

X ray reflectivité dans les ressources documentaires

  • Article de bases documentaires
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  • 10 janv. 1996
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  • Réf : P1085

Caractérisation des surfaces et des matériaux stratifiés par rayons X

, et celles adaptées au domaine X. Par exemple, connaissant l’indice d’un matériau, on peut calculer sa réflectivité... of X-rays. illustre, pour trois longueurs d’onde, la différence de comportement annoncée... . Dans ces conditions, les études de réflectivité, diffraction, diffusion, fluorescence, etc. sont possibles en laissant... studies of solid by total reflexion of X-rays. . La figure 2 MATSHUSHITA (T.) et al - High...

Les articles de référence permettent d'initier une étude bibliographique, rafraîchir ses connaissances fondamentales, se documenter en début de projet ou valider ses intuitions en cours d'étude.

  • Article de bases documentaires
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  • 10 sept. 2025
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  • Réf : R6747

L’analyse combinée XRR-GIXRF sans référence pour les couches minces

) La réflectivité des rayons X ( X-Ray Reflectivity , XRR) est une technique analytique qui permet de déterminer... réflectivité X... avec la réflectivité X pour l’étude des couches minces d’épaisseur nanométrique. L’approche présentée ici exploite... de référence pour étalonner un appareil de mesure. En effet, la technique d’analyse combinant réflectivité...

Les articles de référence permettent d'initier une étude bibliographique, rafraîchir ses connaissances fondamentales, se documenter en début de projet ou valider ses intuitions en cours d'étude.

  • Article de bases documentaires : RECHERCHE ET INNOVATION
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  • 10 oct. 2016
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  • Réf : RE263

Apport de la caractérisation in situ dans les procédés ALD

de réflectivité ou spectroscopie d’anisotropie de réflectivité (RDS pour reflection difference spectroscopy... de réflectivité est mesurée pour deux azimuths correspondant à deux directions cristallographiques différentes... diélectrique transparent, on parle de technique de réflectivité diélectrique incrémentale (IDR – Incremental... .), BALDO (P. M.), FUOSS (P. H.) - In situ synchrotron X-ray characterization of ZnO atomic layer...

Les articles Recherche et Innovation présentent des technologies en cours de développement, émergentes, qui n'ont pas encore atteint leur pleine maturité pour un développement industriel mais sont prometteuses.


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