#

X38crmV5

X38crmV5 dans l'actualité

Toute l'actualité


X38crmV5 dans les livres blancs


X38crmV5 dans les conférences en ligne


X38crmV5 dans les ressources documentaires

  • Article de bases documentaires
  • |
  • 10 avr. 1996
  • |
  • Réf : P1076

Détermination de structure cristalline par rayons X : méthodes numériques

de l'Ingénieur décrit la théorie de la détermination d'une structure cristalline par diffraction des rayons X... 'un atome, donc d'identifier chimiquement la nature de l'atome se trouvant en un point de coordonnées x,y... ,z . Le calcul de la densité électronique ρ  ( x, y, z ) en un point quelconque de coordonnées x,y,z , prises... X, d'une fiabilité exceptionnelle et d'une précision remarquable. On les appelle des diffractomètres...

Les articles de référence permettent d'initier une étude bibliographique, rafraîchir ses connaissances fondamentales, se documenter en début de projet ou valider ses intuitions en cours d'étude.

  • Article de bases documentaires
  • |
  • 10 déc. 2003
  • |
  • Réf : P2557

Émission X induite par particules chargées (PIXE) : théorie

de protons de quelques MeV, délivré par un accélérateur électrostatique. En étudiant le spectre des photons X... .A.E.), JOHANSSON (T.B.) - Analytical applications of particle induced X-ray emission MITCHELL (I.V... ce régime en se plaçant à une énergie plus élevée, typiquement dans un domaine d’énergie de 0,5 à 5 MeV... MITCHELL (I.V.), BARFOOT (K.M.) - Particle induced X-ray emission analysis, applications to analytical...

Les articles de référence permettent d'initier une étude bibliographique, rafraîchir ses connaissances fondamentales, se documenter en début de projet ou valider ses intuitions en cours d'étude.

  • Article de bases documentaires
  • |
  • 10 sept. 2000
  • |
  • Réf : P2695

Spectrométrie d’émission des rayons X. Fluorescence X

du cuivre). Ce rapport vaut environ, pour V  = 40 kV, 38 % pour le tungstène, et 72 % pour le chrome... des molécules (Extended X-ray Absorption Fine Structures, ou EXAFS et X-ray Absorption Near Edge Structures... pour l’analyse. Concernant les études de structures par rayons X, le lecteur pourra se reporter... M , subdivisée en sous-couches M 1 , M 2 , M 3 , M 4 , M 5 , etc. Ces niveaux...

Les articles de référence permettent d'initier une étude bibliographique, rafraîchir ses connaissances fondamentales, se documenter en début de projet ou valider ses intuitions en cours d'étude.

  • Article de bases documentaires : FICHE PRATIQUE
  • |
  • 05 oct. 2011
  • |
  • Réf : 0445

Le 5S, démarche d’amélioration continue

Vous voulez vous lancer dans une démarche de qualité totale ou d’amélioration continue ? Vous ne supportez plus le désordre dans l’atelier ou dans votre classement informatique ? Vous cherchez un moyen efficace d’y parvenir ? La démarche 5S permet de mettre en place un terrain de travail fonctionnel régi par des règles simples, efficaces et participatives.

La méthodologie s’applique à tous les services de l’entreprise : entrepôt, atelier, bureaux, magasin, au sens le plus large en incluant les couloirs et allées. Elle s’applique aussi à tous les types de structure : industries, pharmacie, commerce, gares, etc.

Amélioration des performances, Certification ISO 9001, Management intégré...

  • Article de bases documentaires : FICHE PRATIQUE
  • |
  • 13 oct. 2011
  • |
  • Réf : 0446

Les « 5 Pourquoi ? », outil d’aide à la résolution de problème

Que vous soyez confronté à un problème simple ou complexe, il est important de ne pas se limiter aux causes apparentes du problème pour pouvoir proposer des solutions adaptées et pérennes. Le moyen pour y arriver est d’identifier les causes fondamentales ou causes racines du dysfonctionnement. La méthode des « 5 Pourquoi ? » est un outil simple d’utilisation pour mettre en évidences ces causes racines rapidement.

Associé à un diagramme d’Ishikawa, l’outil « 5 Pourquoi ? » vous permettra d’avoir une vision plus précise et structurée des causes ayant engendré la situation, plus particulièrement dans les situations complexes, où certaines causes ne sont pas intuitives.

Amélioration des performances, Certification ISO 9001, Management intégré...

  • Article de bases documentaires : FICHE PRATIQUE
  • |
  • 01 avr. 2015
  • |
  • Réf : 1433

Surveillance vs étalonnage

Depuis toujours, lorsqu’un laboratoire souhaite garantir les résultats d’un processus de mesure, il fait régulièrement étalonner ses instruments. Ce principe historique a permis de créer et d’harmoniser les unités de mesure dans le monde. Il est à la base de la métrologie légale. Cependant, les laboratoires n’ont pas pour objectif de faire de la métrologie légale, et leur problématique tient en quelques mots : ma mesure est-elle adaptée à ce dont j’ai besoin ?

L’objectif de cette fiche est de présenter la mise en œuvre de surveillance en complément de l’étalonnage, pour des laboratoires cherchant à maîtriser leur processus de mesure. Sans être exhaustive, cette fiche décrit différentes méthodes de surveillance possibles que les laboratoires peuvent mettre en œuvre pour réduire les coûts de métrologie tout en réduisant les risques.

Les fiches pratiques répondent à des besoins opérationnels et accompagnent le professionnel en le guidant étape par étape dans la réalisation d'une action concrète.


INSCRIVEZ-VOUS AUX NEWSLETTERS GRATUITES !