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Zeiss metrology

Zeiss metrology dans l'actualité

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Zeiss metrology dans les ressources documentaires

  • Article de bases documentaires
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  • 10 juin 2014
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  • Réf : M3550

Apports de la tomographie en fonderie

de mesure tridimensionnelle…) (Wenzel, Werth, Carl Zeiss) ; les fournisseurs spécialisés distribuant... des pièces In-Line. Carl Zeiss La gamme de tomographes du fournisseur Carl Zeiss ( https://www.zeiss.fr... sur des petites pièces ; Metrotom 1500 qui convient mieux aux applications industrielles. HexagonMetrology... Hexagon Metrology ( http://www.hexagonmetrology.fr ) commercialise une gamme de machines de mesure...

Les articles de référence permettent d'initier une étude bibliographique, rafraîchir ses connaissances fondamentales, se documenter en début de projet ou valider ses intuitions en cours d'étude.

  • Article de bases documentaires
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  • 10 juin 2008
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  • Réf : R1245

Contrôle et étalonnage des cales étalons

, CE Johansson, Cary, TESA, Select se rassembler au sein d'un même groupe : Hexagon metrology. Les cales... pour la mesure des cales étalons, notamment suivant le principe de Kösters. La société allemande Carl Zeiss... . Interféromètre Zeiss Jena Cet interféromètre a été distribué en France sous l'appellation « Jenoptik ». C... interférentiel Zeiss (RFA) Ce type de comparateur a été mis au point en 1932 par W. Kösters à la Physikalisch...

Les articles de référence permettent d'initier une étude bibliographique, rafraîchir ses connaissances fondamentales, se documenter en début de projet ou valider ses intuitions en cours d'étude.

  • Article de bases documentaires
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  • 10 déc. 2022
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  • Réf : R6741

Comparaison de mesures des dimensions caractéristiques de réseaux pour l’étalonnage des AFM et MEB

for the nanoparticle dimensional metrology. CROUZIER (L.), FELTIN (N.), DELVALLEE (A... de l’étude le logiciel Mountains Map (Digital Surf) et SPIP (Image Metrology) étaient des logiciels... ’étalonnage VLSI. Pour les mesures MEB Concernant les mesures avec le MEB du LNE (Zeiss Ultra plus... sous SPIP (Image Metrology) par un redressement du plan, puis en utilisant les outils «  XY unit cell...

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