Zeiss metrology

Les microscopies à force atomique - AFM - et électronique à balayage - MEB - sont aujourd’hui des techniques très répandues pour la caractérisation des na…

La cale étalon reste aujourd'hui l'étalon de longueur de référence le plus couramment utilisé et le plus précis, rivalisant sans problème avec les lasers…

La caractérisation des propriétés dimensionnelles des nanoparticules - NP - représente encore aujourd’hui un vrai défi et reste un besoin nécessaire pour…

La métrologie est un champ transverse de recherche qui nécessite de répondre à des besoins de plus en plus complexes, au fait des nouveautés scientifiques…

La connaissance et la quantification des microstructures avant et après les traitements thermiques, thermochimiques ou thermomécaniques est indispensable…

L’Organisation internationale de métrologie légale (OIML) a été instituée par une convention intergouvernementale, signée à Paris en octobre 1955. Elle a…

La caractérisation dans un microscope électronique à balayage des défauts cristallins - dislocations, défauts d’empilement, sous-joints de grains - dans u…

La microscopie de fluorescence nécessite d'une part un instrument spécifique et des molécules fluorescentes. Cet article expose ces deux aspects. Cette te…

La tomographie par cohérence optique (OCT) est une technique d’imagerie à résolution micrométrique basée sur l’interférométrie en lumière faiblement cohér…

La réduction de l'utilisation des produits issus du pétrole dans le contexte économique et écologique actuel conduit à se tourner vers des matières premiè…

Pour la compréhension des propriétés des matériaux, l'analyse chimique locale en microscopie électronique est de plus en plus utilisée. Dans ce dossier, s…

Le 17ème Congrès International de Métrologie se tiendra cette année du 21 au 24 septembre à Paris-Porte de Versailles conjointement avec le salon Enova, l…

Nuno Dos Reis est le directeur général de Deltamu depuis 2010. L'entreprise croit plus que tout à l'avénement de la « smart metrology ».

Techniques de l'Ingénieur sera présent au salon Measurement World pour l'édition 2021 à Eurexpo Lyon. Du 6 au 9 septembre notre équipe vous accueille sur…

La 5ème édition de Global Industrie, le plus grand salon industriel en France, est de retour à l’Eurexpo de Lyon du 7 au 10 mars 2023. Venez rencontrer Te…

Aider l'industrie européenne des semi-conducteurs à rester compétitives. Tel est le maître mot du nouveau programme de recherche européen IMPROVE qui s'ar…

Le Collège Français de Métrologie (CFM) est une organisation française privée fondée en 2002 par le LNE, le CETIAT et le groupe PSA qui a la responsabilit…

Les progrès technologiques et les besoins grandissants en matière de précision font de la métrologie une science en perpétuelle transformation, d’autant p…