Glossaire – Définitions
Spectrométrie de masse d'ions secondaires : SIMS et ToF-SIMS - Procédures d'analyse et performances

Ajouter à la bibliothèque

P2619 V2 Article de référence

Glossaire – Définitions
Spectrométrie de masse d'ions secondaires : SIMS et ToF-SIMS - Procédures d'analyse et performances

Auteur(s) : Evelyne DARQUE-CERETTI, Marc AUCOUTURIER, Patrice LEHUÉDÉ

Date de publication : 10 mars 2015 | Read in english

Ajouter à la bibliothèque Ajouter à la bibliothèque

Logo Techniques de l'Ingenieur Cet article est réservé aux abonnés
Pour explorer cet article plus en profondeur Consulter un extrait gratuit

Déjà abonné ?

9. Glossaire – Définitions

Clusters

Ions formés d'amas polyatomiques.

Dalton

Unité de masse atomique.

Détection parallèle

Détection simultanée de plusieurs ions secondaires.

Détection séquentielle

Détection des ions secondaires masse par masse successivement.

Nano-SIMS

SIMS à haute résolution spatiale (appellation commerciale).

Profilage analytique

Mesure de la composition en fonction de la profondeur depuis la surface.

SIMS dynamique

Analyse SIMS sous un courant primaire élevé et tel que la détection et l'érosion sont simultanées....

Cet article est réservé aux abonnés
Logo Techniques de l'Ingenieur

Cet article est réservé aux abonnés. Il vous reste 92 % à découvrir.

Cet article est réservé aux abonnés Consulter un extrait gratuit

Déjà abonné ?


Lecture en cours
Glossaire – Définitions

Article inclus dans l'offre

"Techniques d'analyse"

( 389 articles )

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques.

Services

Quiz, médias, tableaux, formules, vidéos, etc.

Des modules pratiques

Opérationnels et didactiques, pour garantir l'acquisition des compétences transverses.

Des avantages inclus

Un ensemble de services exclusifs en complément des ressources.

Voir le détail de l'offre

Dans les ressources documentaires

Principales applications des supraconducteurs

Les supraconducteurs sont essentiellement utilisés aujourd’hui au plan industriel pour créer des inductio...

Spectrométrie de masse d'ions secondaires : SIMS et ToF-SIMS - Principes et appareillages

Cet article est consacré à l’analyse des matériaux par spectrométrie de masse d’ions secondaires. Il prés...

Sonde atomique tomographique SAT

Les progrès constants réalisés dans le domaine des nanosciences et de leurs applications, les nanotechnol...

Tous les livres blancs
Toutes les actualités

Inscrivez-vous aux newsletters !

Contactez-nous