Mesure des composants électroniques - Partie 2 : mesure des composants passifs

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R1079 V1 Article de référence

Mesure des composants électroniques - Partie 2 : mesure des composants passifs

Auteur(s) : Patrick POULICHET, Gilles AMENDOLA, Christophe DELABIE, Yves BLANCHARD

Relu et validé le 27 août 2024 | Read in english

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RÉSUMÉ

Cet article traite exclusivement des mesures sur les composants passifs. La plupart des caractéristiques électriques des composants électroniques dépendent de la fréquence de mesure. Cette dépendance découle d'éléments parasites de type inductance ou capacité. Beaucoup de ces mesures peuvent se faire avec un appareil capable de mesurer l'impédance : pont automatique, mesure I-V ou RF I-V et analyseur de réseau. Ces appareils permettent, à partir d'un modèle choisi par l'utilisateur, de déterminer les valeurs de résistance, capacités et inductance collant le mieux à la mesure.

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AUTEUR(S)

 INTRODUCTION

Le présent dossier fait suite au dossier  [R 1 078v2] et traite des mesures sur les composants passifs .

La plupart des caractéristiques électriques des composants électroniques dépendent de la fréquence à laquelle elles sont mesurées. Cette dépendance est liée à l'existence d'éléments parasites de type inductance ou capacité.

Comme nous l'avons vu dans le dossier Mesures des composants électroniques. Partie 1 [R 1 078v2] , beaucoup de ces mesures peuvent se faire avec un appareil capable de mesurer l'impédance  : pont automatique, mesure I -V ou RF  I -V et analyseur de réseau. Ces appareils permettent, à partir d'un modèle choisi par l'utilisateur, de déterminer les valeurs de résistance, capacités et inductance collant le mieux à la mesure.

Ce texte est la nouvelle édition de l'article Mesure des composants électroniques, rédigé en 1993 par Jean-Claude GOURDON et Paul PRODHOMME, dont sont repris quelques extraits.

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DOI (DIGITAL OBJECT IDENTIFIER)

https://doi.org/10.51257/a-v1-r1079

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