6. Glossaire
AFM (Atomic Force Microscopy)
La microscopie à force atomique est une technique de microscopie basée sur l’utilisation d’une pointe solidaire d’un levier, approchée au contact ou à une très faible distance (quelques nanomètres) de la surface à étudier. Le contrôle de le déflexion du levier permet de réaliser une cartographie de la topographie avec une résolution spatiale nanométrique.
DFRT (Dual Frequency Resonance Tracking)
Le mode DFRT permet de décaler la fréquence d’excitation électrique de l’échantillon piézoélectrique de manière que la distance entre la fréquence d’excitation et la fréquence de résonance du système reste constante.
C-AFM (Conductive AFM)
Le mode C-AFM permet d’opérer une mesure de courant en appliquant une tension entre la pointe de l’AFM et l’échantillon. Plusieurs gammes de mesure sont possibles...
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