1. Corps d'épreuve
Jauges métalliques collées : 1954
Jauges semi-conductrices : 1954
Détecteur inductif LVDT : 1960
Jauges semi-conductrices diffusées dans la membrane silicium : 1960
Jauges déposées en couches minces : 1968
Capteur capacitif : 1974
Jauges déposées en couches épaisses : 1975
Puce en silicium micro-usiné : 1980
Quartz vibrant : 1983
Bus de terrain : 1990
MEMS/MOMS : 2000
Liaisons radio/Interconnexion réseaux : 2007
1.1 Différents corps d'épreuve
La pièce maîtresse d'un capteur est le...
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Du principe de détection au capteur et transmetteur
Sources bibliographiques
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