Instrumentation et modes de fonctionnement
Microscopie à force atomique (AFM)

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R1394 V1 Article de référence

Instrumentation et modes de fonctionnement
Microscopie à force atomique (AFM)

Auteur(s) : Jean-Claude RIVOAL, Christian FRÉTIGNY

Relu et validé le 12 mai 2026 | Read in english

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1. Instrumentation et modes de fonctionnement

1.1 Microscope

Un schéma typique des microscopes de force est présenté sur la figure  1 . Une pointe miniature, fixée à l’extrémité d’un cantilever , est proche de la surface d’un échantillon placé sur une platine de déplacement (balayage XYZ ). Le déplacement relatif de la pointe par rapport à l’échantillon donne soit une cartographie de la grandeur mesurée, soit une surface d’« isograndeur », si une boucle d’asservissement ajuste la hauteur de l’échantillon pour maintenir constante la grandeur mesurée.

Nota :

le terme anglais ...

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