Disponibilité des matériaux de référence à l’échelle nanométrique
Matériaux de référence pour la nanométrologie - État des lieux

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Disponibilité des matériaux de référence à l’échelle nanométrique
Matériaux de référence pour la nanométrologie - État des lieux

Auteur(s) : Nicolas FELTIN

Date de publication : 10 septembre 2025 | Read in english

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4. Disponibilité des matériaux de référence à l’échelle nanométrique

Les principaux acteurs dans le domaine de la production de MR(C) dédiés à la nanométrologie sont essentiellement des Instituts nationaux de métrologie (NIST (USA), BAM (Allemagne), DFM (Danemark), NMIJ (Japon), KRISS (Corée du Sud)) ou assimilé (JRC-IRMM) et certaines compagnies privées (ThermoFisher, Polysciences, Whitehouse Scientific, VLSI Standards, etc.). Ces dernières proposent cependant la plupart du temps des matériaux de référence de second niveau, par exemple traçables à des MR développés par les Instituts nationaux de métrologie, et les informations fournies sont malheureusement souvent incomplètes du point de vue de la métrologie (méthodes utilisées, détails sur les incertitudes, etc.).

À noter, par ailleurs, que les MR(C) sont commercialisés sous différents noms commerciaux, tels que ERM (CE), SRM (NIST) ou encore...

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