Généralités sur l’approche des méthodes
Méthode de microanalyse des surfaces et couches minces

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Généralités sur l’approche des méthodes
Méthode de microanalyse des surfaces et couches minces

Auteur(s) : Guy BLAISE

Relu et validé le 5 janvier 2014 | Read in english

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1. Généralités sur l’approche des méthodes

1.1 Détectabilité des éléments

Un élément apparaît détectable dès que le processus physique qui est à la base de la méthode d’analyse est compatible avec la constitution électronique et nucléaire de l’élément recherché. Il convient cependant pour être plus précis de situer les éléments dans une échelle de détectabilité. C’est ce que nous essaierons de faire à partir d’une analyse physique très dépouillée des processus physiques élémentaires mis en jeu. De ce fait, il ne faudra pas confondre la détectabilité avec la limite de détection qui prend en compte tous les paramètres physiques et instrumentaux.

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