3. Microanalyse fondée sur l’irradiation aux ions
On trouvera le descriptif des principes physiques mis en jeu et des méthodes d’analyse dans les articles de ce traité :
Analyse par observation directe de réactions nucléaires. Rétrodiffusion de particules chargées et Microsonde nucléaire [P 2 563] ;
Analyse par rayons X induits par particules chargées ;
Analyse par émission ionique secondaire SIMS.
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Microanalyse fondée sur l’irradiation aux ions
Références bibliographiques
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(1) - HEINRICH KURT (J.F.) - Electron Beam X-Ray Microanalysis. - Ed. Van Nostrand Reinhold Company (1981).
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(2) - POWEL (C.J.) - SEM IV/1649-64 (1984).
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(3) - CAZAUX (J.) - Applications of Surface Science. - 20, p. 457-71 (1985).
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