3. Cartographie X
3.1 Cartographie numérique
En balayant la surface de l'échantillon, soit électroniquement en spectrométrie EDS, soit mécaniquement en spectrométrie WDS, on peut obtenir une cartographie X (ou « image X ») représentative de la répartition de l'élément analysé. Cela est illustré par la figure 8 où l'on peut observer la répartition du niobium et du silicium dans une structure de solidification d'un acier allié. Cette information est généralement purement qualitative.
Cet article est réservé aux abonnés. Il vous reste 92 % à découvrir.
Déjà abonné ? Se connecter
Cartographie X
Analyse quantitative et calculs de correction
À lire également dans nos bases
Cet article est réservé aux abonnés. Il vous reste 92 % à découvrir.
Déjà abonné ? Se connecter
Article inclus dans l'offre
"Techniques d'analyse"
(
389 articles
)
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques.
Quiz, médias, tableaux, formules, vidéos, etc.
Opérationnels et didactiques, pour garantir l'acquisition des compétences transverses.
Un ensemble de services exclusifs en complément des ressources.
