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Techniques d'analyse / Référence TI630

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Émission X induite par particules chargées (PIXE) : théorie

Référence P2557 | Date de publication : 10 déc. 2003 | Philippe MORETTO, Lucile BECK

1. Notions de base

La méthode PIXE est une des techniques d’analyse que l’on peut regrouper sous le terme générique de technique d’émission de fluorescence X. Elles sont toutes basées sur l’excitation du cortège électronique par ionisation des couches atomiques profondes (K, L ou M), la désexcitation produisant ensuite l’émission d’un rayonnement X caractéristique. La sonde excitatrice peut ainsi être également constituée par des électrons (EDAX), des photons X issus de générateurs (XRF) ou du rayonnement synchrotron (SXRF) et enfin des photons γ générés par des sources radioactives.

Nous rappelons dans les paragraphes qui suivent quelques notions de base qui permettront d’aborder cette technique de manière pratique et surtout d’en comprendre les spécificités. Pour de plus amples détails, on pourra se référer aux références de base suivantes ...

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