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Hacheurs : filtres, commutations et commandeArticle de référence | Réf : E380 v1
Auteur(s) : Bernard BOUTOUYRIE
Date de publication : 10 mai 2002
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Un souci légitime d’un utilisateur est la recherche d’une alimentation « fiable ». Pour essayer de spécifier cette notion subjective, les statisticiens ont défini deux termes : le MTBF (mean time between failure) et la fiabilité elle-même.
Le calcul du MTBF est extrêmement ingrat. Il est décrit dans la norme MIL-HDBK-217F et ses additifs. Ce calcul implique la sommation des taux de panne de chaque composant pris individuellement à la température de fonctionnement. Ce taux de panne dépend de son taux de panne multiplié par son niveau de contrainte. Le résultat est
, taux de panne par million d’heures de fonctionnement.
Pour l’ensemble de l’alimentation :
d’où l’on déduit le MTBF :
Le MTBF ne représente absolument pas l’espérance de vie, qui est fonction du MTBF mais est mesurée selon une méthode différente.
Le calcul nécessite que chaque composant ait un « passé » de façon à connaître son taux de panne réel. L’introduction d’un nouveau composant peut donc rendre ce calcul caduc. Dans le cas des alimentations à découpage, les innovations sont constantes (FET, etc.), donc le MTBF est difficile à apprécier.
FET : field effect transistor
Par définition, le taux de panne de chaque composant dépend de la température d’utilisation. Donc un MTBF spécifié par un fabricant doit être accompagné de la température à laquelle le calcul a été fait.
Pour la même raison, le MTBF varie énormément avec la température et décroît très vite avec l’augmentation de celle-ci. On peut considérer qu’au-dessus de 40 C,...
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