Conclusion
La nano-imagerie par microscopie optique en champ proche

Le domaine des microscopies à sonde locale est en pleine expansion et de plus en plus d'équipes de chercheurs y travaillent aujourd'hui à travers le monde. La microscopie en champ proche pose encore certaines difficultés théoriques et expérimentales, notamment dans l'interprétation des résultats ou dans la fabrication de sondes toujours plus fines. La prochaine révolution technologique ne pourra se faire sans une compréhension parfaite des phénomènes physiques, tant électromagnétiques que mécaniques, qui se déroulent à l'échelle atomique. Il serait cependant réducteur de ne considérer les performances de cette technique qu'en termes de résolution. Sa richesse et sa puissance, contrairement à l'AFM ou au TEM (Transmission Electron Microscope) où les résolutions atteintes peuvent être quasi atomiques, sont de donner accès à des informations autres que simplement la topographie de l'objet ou l'arrangement atomique et de mesurer les caractéristiques électromagnétiques intrinsèques de la matière. Qui plus est, la lumière possède de nombreux paramètres (longueur d'onde, polarisation...) qui, en les faisant varier, multiplient la quantité d'informations que l'on peut extraire d'un objet. Les perspectives offertes par le champ proche surpassent de loin le cadre de la simple microscopie et ouvrent la voie à une optique nouvelle : l'optique non radiative, basée sur l'utilisation d'ondes non progressives.