#

Metrologie

Metrologie dans actualités

PublicitéDevenez annonceur

Toute l'actualité


Metrologie dans les conférences en ligne


Metrologie dans les ressources documentaires

  • Article de bases documentaires
  • |
  • 10 oct. 2018
  • |
  • Réf : E6442

Caractérisation d’une impulsion ultra-brève

Cet article porte sur différentes méthodes de caractérisation permettant d'accéder au pro fil temporel d'impulsions ultra-brèves, dont la durée est typiquement comprise entre quelques femtosecondes et quelques picosecondes. Ces méthodes sont soit de nature non stationnaire, soit de nature non linéaire. Dans le premier cas, on utilise le plus souvent une impulsion ultra-brève de référence permettant d'accéder par échantillonnage ou interférométrie à la forme temporelle de l'impulsion mesurée. Dans le second cas, un processus d'optique non-linéaire du deuxième ou du troisième ordre permet d'effectuer une mesure auto-référencée, parfois au moyen d'un algorithme itératif.

  • Article de bases documentaires
  • |
  • 10 déc. 2017
  • |
  • Réf : R689

Paramètres S fort signal

Cet article traite de la caractérisation des dispositifs radiofréquences et micro-ondes ayant un comportement non linéaire en développant un modèle qui est une extension des paramètres S utilisés traditionnellement pour la caractérisation de dispositifs linéaires. L’approche s’appuie sur le concept de linéarisation spectrale qui est un outil permettant de simplifier le problème en réduisant le nombre de composantes fort signal à considérer et à linéariser la carte spectrale autour du point de fonctionnement tout en garantissant une description fidèle du comportement du dispositif, en caractérisant toutes les interactions entre les ports du dispositif et entre toutes les fréquences d’intérêt.

  • Article de bases documentaires
  • |
  • 10 juin 2017
  • |
  • Réf : R935

Cadre physique de la métrologie en compatibilité électromagnétique

Cette seconde partie du dossier consacré à la métrologie CEM aborde l’analyse physique de l’émission ou de l’immunité d’un appareil électronique. Pour des raisons didactiques, l’étude sera restreinte au comportement d’une piste de circuit imprimé. Des formules analytiques permettront de situer l’émission ou l’immunité de la piste rapportée aux tolérances exigées par les normes CEM. Un second paragraphe concernera la mesure des champs électriques de faible ou de forte amplitude émanant d’ondes entretenues au-dessus de 100 MHz.

  • Article de bases documentaires : FICHE PRATIQUE
  • |
  • 24 juil. 2014
  • |
  • Réf : 0346

Raccorder ses équipements de mesure : quand et comment ?

Toute mesure est par nature une comparaison à une unité (m, kg, s, a…) qui représente une quantité bien définie et reconnue dans le monde entier. Le raccordement des instruments de mesure consiste à s’assurer qu’ils respectent cette quantité.

Les décisions industrielles s’appuient souvent sur des mesures (acceptation de lots, réglages…). La qualité desdites décisions dépend donc directement de la qualité des résultats de mesure. Le raccordement des instruments, souvent indispensable à cette dernière, est de ce fait une étape indispensable. Il fait l’objet de nombreuses dispositions qui sont reprises dans les exigences du COFRAC pour accréditer les laboratoires réalisant des prestations d’étalonnage. Cette fiche traite des sujets suivants :

  • raccordement, chaîne de traçabilité métrologique ;
  • traçabilité ;
  • étalonnage / vérification ;
  • accréditation COFRAC (ou pas ?) ;
  • périodicité ;
  • surveillance.

  • Article de bases documentaires : FICHE PRATIQUE
  • |
  • 07 avr. 2012
  • |
  • Réf : 0811

Identifier vos besoins en termes de mesures et de contrôle

Cette fiche a pour but de vous informer sur la mise en place de contrôles liés à une activité nouvelle. Elle vous permettra de faire un tri des mesures et contrôle, ainsi que des moyens à mettre en œuvre pour acquérir un système viable de la qualité de votre produit.

Via une méthode générale, cette fiche vous aidera dans le ciblage des différents contrôles possibles ou obligatoires en fonction du domaine d’activité dans lequel vous évoluez. Nous évoquerons les points suivant :

  • où trouver les obligations légales de contrôle vous concernant ;
  • le type de production et les moyens de contrôle adaptés ;
  • en quoi la cible et l’usage de votre produit influent-ils sur le contrôle ;
  • comment faire votre veille.

  • Article de bases documentaires : FICHE PRATIQUE
  • |
  • 14 nov. 2014
  • |
  • Réf : 1298

Définir les besoins de mesure et de précision

Les incertitudes de mesure sont de plus en plus évoquées en matière de qualité. Une fois estimées, il s’agit de définir la façon de les considérer eu égard à l’objectif de la mesure : déclaration de conformité, analyse de Process (SPC/MSP), étalonnage…

Cette fiche décrit les différentes approches disponibles en matière normative, en présentant notamment les dernières évolutions et l’avenir qui se dessine sur ce sujet. Elle précise les différents facteurs à prendre en considération pour définir les processus de mesure en fonction des besoins de votre entreprise.

En particulier, cette fiche vous présente la question centrale de l’incertitude de mesure, ainsi que les façons possibles de la prendre en compte dans l’exploitation des résultats de mesure.

Les stratégies suivantes sont détaillées :

  • capabilité (MSA et norme ISO 22514-7) ;
  • norme ISO 14253 (zone de conformité) ;
  • norme NF ISO CEI Guide 98-4 (bande de garde et risques client et fournisseur).

Pour prévoir le très proche avenir, nous abordons en conclusion un autre aspect qui doit être considéré dans le choix des équipements. Les évolutions technologiques qui nous conduisent vers l’industrie 4.0 ne sont en effet pas sans conséquence.


INSCRIVEZ-VOUS AUX NEWSLETTERS GRATUITES !