Piège de la représentativité
Méthodologie pour réduire les incertitudes lors des mesures en CEM

Tout ingénieur en CEM a été un jour confronté à l'idée d'orienter un essai en vue d'être « représentatif » de l'application réelle. Cette idée est illusoire et ces tentatives ne mènent pas en général à des solutions robustes, paradoxalement.

Nous pouvons simplement modéliser la défaillance d'une électronique en CEM par l'intermédiaire d'un schéma résistance-contrainte. La variation de réponse de l'électronique face au bruit se distribue suivant une probabilité démarrant pour les niveaux les plus bas induisant une perturbation de fonctionnement, jusqu'au niveau à partir duquel l'électronique est défaillante avec certitude. La courbe de distribution de la probabilité de défaillance a ainsi l'allure de la figure  2 .