Présentation
RÉSUMÉ
Le test des circuits intégrés numériques consiste à détecter en production tous les défauts qui peuvent apparaître pendant ou après la fabrication. Pour y parvenir, il faut s’assurer très tôt, dès la phase de conception, que le circuit possède les caractéristiques requises. Cet article définit les critères de testabilité d’un circuit et expose les différentes techniques de conception en vue du test qui sont mises en œuvre dans l’industrie pour atteindre ces critères. Les techniques et les méthodes décrites s’adressent à tous les niveaux hiérarchiques, du bloc élémentaire au système sur puce en trois dimensions, jusqu'au test des systèmes sur carte.
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Lire l'articleAUTEUR(S)
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Mounir BENABDENBI : Maître de Conférence à l’Institut Polytechnique de Grenoble (Grenoble INP) - Laboratoire des Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés (TIMA), Grenoble, France
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Régis LEVEUGLE : Professeur à l’Institut Polytechnique de Grenoble (Grenoble INP) - Laboratoire des Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés (TIMA), Grenoble, France
INTRODUCTION
L’article
Après avoir défini les critères de testabilité d’un circuit, nous explorons les différentes techniques architecturales pouvant être intégrées pendant la conception, que ce soit pour des blocs numériques simples ou pour des systèmes intégrés complexes. Les principaux standards utilisés dans l’industrie sont brièvement présentés. Pour plus d’information, le lecteur pourra trouver les liens vers les standards cités dans l’annexe bibliographique. Nous introduisons aussi les techniques de base à employer pour réaliser un test en ligne, c’est-à-dire un test qui a lieu pendant l’exécution de l’application. Les logiciels de Conception Assistée par Ordinateur (CAO) prennent en compte la testabilité des circuits, leurs caractéristiques sont détaillées.
Nous verrons que les techniques proposées introduisent un surcoût en termes de surface de silicium et de consommation et entraînent une légère réduction des performances. Cependant, ces techniques et le surcoût induit sont incontournables pour garantir à l’utilisateur un niveau minimal de qualité et de fiabilité. Tout circuit ou tout système intégré produits de nos jours embarque une ou plusieurs des solutions citées dans cet article.
Le lecteur trouvera en fin d'article un glossaire des termes utilisés.
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MOTS-CLÉS
testabilité | contrôlabilité | observabilité | conception en vue du test
VERSIONS
Il existe d'autres versions de cet article :
- Version archivée 1 de août 2002 par Régis LEVEUGLE
DOI (DIGITAL OBJECT IDENTIFIER)
Test des circuits intégrés numériques - Conception orientée testabilité
Techniques de conception pour augmenter la testabilité d’un circuit
Sources bibliographiques
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