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Régis LEVEUGLE : Ingénieur de l’École nationale supérieure d’électronique et de radioélectricité de Grenoble - (ENSERG) - Professeur à l’Institut national polytechnique de Grenoble (INPG) - Laboratoire des techniques de l’informatique et de la microélectronique pour l’architecture - d’ordinateurs (TIMA)
INTRODUCTION
Lans la première partie intitulée « Test des circuits intégrés numériques – Notions de base. Génération de vecteurs » , les principaux concepts du domaine ont été introduits. Cette deuxième partie présente plus en détail différentes techniques pouvant être mises en œuvre, pendant la conception d’un circuit, pour faciliter son test en fin de fabrication ou dans l’équipement. Quelques techniques de base employées pour réaliser un test pendant l’exécution de l’application sont également introduites.
Cet article constitue la deuxième partie d’un ensemble consacré aux tests des circuits intégrés numériques :
Test des circuits intégrés numériques – Notions de base. Génération de vecteurs ;
Test des circuits intégrés numériques – Conception orientée testabilité [E 2 461] ;
Test des circuits intégrés numériques – Pour en savoir plus [Doc. E 2 462].
Nous rappelons au lecteur qu’un glossaire des termes utilisés dans l’article est présenté dans la première partie de l’article ([E 2 460], encadré 1).
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VERSIONS
Il existe d'autres versions de cet article :
- Version courante de mai 2022 par Mounir BENABDENBI, Régis LEVEUGLE
DOI (DIGITAL OBJECT IDENTIFIER)
Test des circuits intégrés numériques - Conception orientée testabilité
Techniques de conception pour augmenter la testabilité d’un circuit
Bibliographie
Références
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