5. Dissipation thermique
5.1 Méthodes expérimentales pour la mesure de la dissipation thermique
Le phénomène d’auto-échauffement des HEMTs GaN de puissance est un phénomène limitant les performances des transistors, aussi est-il important de déterminer la température dans le transistor. Il existe pour cela plusieurs approches expérimentales permettant de déterminer la température dans les composants. Les méthodes optiques permettent de déterminer la température en un point du composant avec une précision plus ou moins importante. Quant aux méthodes électriques, elles permettent d’obtenir une température moyenne le long du composant.
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Dissipation thermique
Aspects environnementaux
Sources bibliographiques
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