Exemples d’utilisation des techniques de DFT
Test des circuits intégrés numériques - Conception orientée testabilité

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Exemples d’utilisation des techniques de DFT
Test des circuits intégrés numériques - Conception orientée testabilité

Auteur(s) : Régis LEVEUGLE

Date de publication : 10 août 2002

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6. Exemples d’utilisation des techniques de DFT

Certaines techniques de conception pour la testabilité (DFT) sont aujourd’hui utilisées dans tous les circuits complexes, même dans des circuits produits en très gros volume. Si les techniques les plus avancées restent encore peu répandues, les autotests de mémoires et l’implantation de chemins série ( scanpath ou LSSD) se retrouvent dans de très nombreux produits. La compatibilité, au moins minimale, avec la norme IEEE 1149.1 se généralise également. Le test des microprocesseurs d’usage général est une bonne illustration de cette évolution.

Exemple

le processeur superscalaire AMD-K7 comporte environ 100 000 bascules D, dont 90 % sont placées dans des chaînes de scanpath pour permettre au maximum l’utilisation des ATPG structurels combinatoires....

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