2. Norme IEEE 1149.1 « boundary scan »
Différence majeure avec ce qui précède 5 , les dispositifs de la norme IEEE 1149.1 ne sont pas destinés en priorité au test du circuit lui-même, mais au support de la testabilité des cartes et des équipements. Cette utilisation hiérarchique dans un produit ne sera pas détaillée ici ; on présentera les concepts de base de l’approche et les principaux...
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Norme IEEE 1149.1 « boundary scan »
Vers le test des SoC
Bibliographie
Références
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