3. Vers le test des SoC
L’évolution des modèles de fautes pour les technologies récentes a été présentée dans l’article
à l’augmentation de la complexité des éléments intégrés ;
à l’augmentation de la densité d’intégration ;
à la forte croissance des fréquences d’horloges ;
à la diminution requise des coûts.
L’ augmentation de la complexité des circuits ...
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Vers le test des SoC
Techniques de conception pour augmenter la testabilité en ligne
Bibliographie
Références
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