7. Glossaire
Échelle nanométrique ; Nanoscale
Échelle s’étendant conventionnellement de 1 nm à 100 nm.
Microscope électronique à balayage (MEB) ; Scanning electron microscopy (SEM)
Technique de microscopie électronique permettant d’obtenir des images en haute résolution de la surface de l’échantillon par l’utilisation de l’interaction électron/matière.
Microscope à force atomique (AFM) ; Atomic force microscopy (AFM)
Technique de microscopie permettant d’obtenir des images de la topographie d’un échantillon par le balayage d’une pointe effilée sur sa surface.
Métrologie ; Metrology
...
Cet article est réservé aux abonnés. Il vous reste 92 % à découvrir.
Déjà abonné ? Se connecter
Glossaire
Sigles, notations et symboles
Sources bibliographiques
Cet article est réservé aux abonnés. Il vous reste 92 % à découvrir.
Déjà abonné ? Se connecter
Article inclus dans l'offre
"Mesures mécaniques et dimensionnelles"
(
158 articles
)
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques.
Quiz, médias, tableaux, formules, vidéos, etc.
Opérationnels et didactiques, pour garantir l'acquisition des compétences transverses.
Un ensemble de services exclusifs en complément des ressources.
