3. Mesures de force électrostatique
3.1 Microscopie à force électrostatique (EFM)
La microscopie à force électrostatique (EFM) est une technique dérivée de l’AFM en mode résonnant qui permet de visualiser la distribution du potentiel électrique induite par la présence de charges et/ou de dipôles à la surface d’un échantillon. Cette technique est fondée sur la détection de la force électrostatique, une force à longue portée (> 100 nm), qui existe entre une pointe conductrice et un échantillon en présence d’une différence de potentiel non nulle. Le premier essai de détection de la force électrostatique a été réalisé dès 1988 par Martin et ses collaborateurs
Cet article est réservé aux abonnés. Il vous reste 92 % à découvrir.
Déjà abonné ? Se connecter
Mesures de force électrostatique
Perspectives métrologiques générales
Sources bibliographiques
Cet article est réservé aux abonnés. Il vous reste 92 % à découvrir.
Déjà abonné ? Se connecter
Article inclus dans l'offre
"Mesures mécaniques et dimensionnelles"
(
158 articles
)
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques.
Quiz, médias, tableaux, formules, vidéos, etc.
Opérationnels et didactiques, pour garantir l'acquisition des compétences transverses.
Un ensemble de services exclusifs en complément des ressources.
