| Réf : IN20 v1

Tomographie à rayons X appliquée à l’étude des matériaux

Auteur(s) : Eric MAIRE,, Luc SALVO,, Peter CLOETENS, Marco DI MICHIEL

Date de publication : 10 sept. 2004

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INTRODUCTION

Les synchrotrons de 3e génération sont des sources de rayons X extraordinairement puissantes. Ils ont permis le développement d’une nouvelle version haute résolution de la tomographie à rayons X, technique d’imagerie non destructive. Ainsi par exemple, la microstructure interne de matériaux peut être étudiée.

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DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-in20


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BIBLIOGRAPHIE

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  • (2) - CLOETENS (P.), LUDWIG (W.), GUIGAY (J.P.), BARUCHEL (J.), SCHLENKER (M.), VAN DYCK (D.) -   Phase contrast tomography  -  . In : X-ray tomography in materials science. Baruchel, Buffière, Maire, Merle et Peix (éd.), p. 115-125, Hermès (2000).

  • (3) - CLOETENS (P.), PATEYRON-SALOMÉ (M.), BUFFIÈRE (J.-Y.), PEIX (G.), BARUCHEL (J.), PEYRIN (F.), SCHLENKER (M.) -   *  -  J. Appl. Phys., 81, 9 (1997).

  • (4) - NUZZO (S.), PEYRIN (F.), CLOETENS (P.), BARUCHEL (J.), BOIVIN (G.) -   Quantification of the degree of mineralization of bone in three dimensions using synchrotron radiation micro-tomography  -  . Med. Phys., 29, 2672-2681 (2002).

  • (5) - DOWKER (S.E.P.), ELLIOTT (J.C.), DAVIS (G.R.), WILSON (R.M.), CLOETENS (P.) -   Synchrotron X-ray microtomographic investigation of mineral concentrations at µm-scale in sound and carious enamel  -  . Caries Research (2004).

  • ...

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