| Réf : IN20 v1

Conclusion
Tomographie à rayons X appliquée à l’étude des matériaux

Auteur(s) : Eric MAIRE,, Luc SALVO,, Peter CLOETENS, Marco DI MICHIEL

Date de publication : 10 sept. 2004

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INTRODUCTION

Les synchrotrons de 3e génération sont des sources de rayons X extraordinairement puissantes. Ils ont permis le développement d’une nouvelle version haute résolution de la tomographie à rayons X, technique d’imagerie non destructive. Ainsi par exemple, la microstructure interne de matériaux peut être étudiée.

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DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-in20


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4. Conclusion

La technique de tomographie à rayons X a énormément progressé. C’est l’utilisation du rayonnement synchrotron comme source de rayons X qui est à l’origine de beaucoup des améliorations apportées. Ce type de source est intense et très énergétique. Il permet une imagerie en mode monochromatique. L’atténuation mais aussi l’indice de réfraction, et donc la densité, peuvent être cartographiés en 3D avec une résolution de l’ordre du micromètre dans des échantillons massifs même s’ils sont absorbants. Ces nouvelles performances ont appelé les études en science des matériaux, pour lesquelles une telle échelle est souvent la plus pertinente. Les succès obtenus sont principalement académiques pour l’instant. Les industriels pensent encore (sans doute à tort) que le coût de telles analyses est prohibitif. Certains utilisateurs industriels financent cependant de telles études (Péchiney, le Cnes, Corning, l’Oréal...), ce qui, n’en doutons pas, constitue les prémisses à une utilisation industrielle plus poussée de ces instruments.

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BIBLIOGRAPHIE

  • (1) - FELDKAMP (L.A.), DAVIS (L.C.), KRESS (J.W.) -   *  -  J. Opt. Soc. Am., 1, no 6, 612-619 (1984).

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  • (3) - CLOETENS (P.), PATEYRON-SALOMÉ (M.), BUFFIÈRE (J.-Y.), PEIX (G.), BARUCHEL (J.), PEYRIN (F.), SCHLENKER (M.) -   *  -  J. Appl. Phys., 81, 9 (1997).

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  • ...

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