Tomographie à rayons X appliquée à l’étude des matériaux : Dossier complet

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Auteur(s)

Eric MAIRE,
Luc SALVO,
Peter CLOETENS
Marco DI MICHIEL

INTRODUCTION

Les synchrotrons de 3^e génération sont des sources de rayons X extraordinairement puissantes. Ils ont permis le développement d’une nouvelle version haute résolution de la tomographie à rayons X, technique d’imagerie non destructive. Ainsi par exemple, la microstructure interne de matériaux peut être étudiée.

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PERMALIEN

https://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/archives-th12/archives-etudes-et-proprietes-des-metaux-tiamb/archive-1/tomographie-a-rayons-x-appliquee-a-l-etude-des-materiaux-in20/

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BIBLIOGRAPHIE

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...

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