Sûreté de fonctionnement des systèmes - Étude expérimentale des lois de la fiabilité

INTRODUCTION

1 - ESTIMATION STATISTIQUE (ENCADREMENTS) DES PARAMÈTRES DE LA LOI EXPONENTIELLE

• 1.1 - Par essais censurés (figures a et b)

• 1.2 - Par essais tronqués (figures a et b)

• 1.3 - Test de l’hypothèse exponentielle

  

2 - PLANS DE TESTS DE CONFORMITÉ À UNE SPÉCIFICATION (MTTF/ATTRIBUTS)

• 2.1 - Plans d’échantillonnage simple du MTTF à durée prédéterminée T (figure )

  

• 2.2 - Plans séquentiels à durée progressive PRST (Probability Ratio Sequential Tests)

  

• 2.3 - Les tests de recette dits « PRAT » (Production Reliability Acceptance Test)

  

• 2.4 - Plans d’échantillonnages simples pour essais binomiaux (dispositifs mono-coup)

• 2.5 - Plans séquentiels d’échantillonnage par attributs (bons-mauvais)

• 2.6 - Inférence bayésienne dans l’estimation statistique, incidence sur les plans d’essais

  

3 - L’ANALYSE DU TAUX DE DÉFAILLANCE (T) PAR LA DISTRIBUTION DE WEIBULL [3]

• 3.1 - Détermination des paramètres via le papier fonctionnel d’Alan Plait (figure )

• 3.2 - Changement de l’origine des temps

• 3.3 - Correspondance d’un agrégat de données avec plusieurs distributions de Weibull

4 - ESTIMATION DES PARAMÈTRES D’UNE DISTRIBUTION LORS DU SUIVI OPÉRATIONNEL D’UN PARC [3]

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• 4.1 - Méthode de Wayne-Nelson (matériels non réparables dont on connaît l’âge)

• 4.2 - Méthode du Call Rate (matériels réparables dont on connaît l’âge)

5 - MÉTHODES DE TRAITEMENTS POUR ESSAIS INCOMPLETS [3]

• 5.1 - L’approximation de F (x) sur petits échantillons : rangs moyens et rangs médians

• 5.2 - Essais suspendus : méthode de L.G. Johnson (sur matériels non réparables)

• 5.3 - Méthode d’essai par groupes à mort soudaine (Sudden death testing)