| Réf : IN20 v1

Problèmes traités
Tomographie à rayons X appliquée à l’étude des matériaux

Auteur(s) : Eric MAIRE,, Luc SALVO,, Peter CLOETENS, Marco DI MICHIEL

Date de publication : 10 sept. 2004

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INTRODUCTION

Les synchrotrons de 3e génération sont des sources de rayons X extraordinairement puissantes. Ils ont permis le développement d’une nouvelle version haute résolution de la tomographie à rayons X, technique d’imagerie non destructive. Ainsi par exemple, la microstructure interne de matériaux peut être étudiée.

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DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-in20


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3. Problèmes traités

La technique a été appliquée à de nombreux problèmes en science des matériaux. Nous en décrivons certains en précisant ce qu’apporte le caractère 3D de l’imagerie dans les différents cas.

3.1 Endommagement

Il est crucial d’observer l’endommagement en 3D car le champ de contraintes qui donne naissance aux microfissures est complètement différent en surface et à cœur. Le processus de préparation de la surface peut également induire des artefacts très gênants dans le cadre de telles observations. Les petits trous susceptibles d’être présents dans les alliages métalliques risquent par exemple d’être bouchés au polissage.

HAUT DE PAGE

3.1.1 Monotone

L’utilisation d’essais in situ, en tomographie sur des composites particulaires à matrice en aluminium a permis à Buffière et coll. (renforts en SiC) puis à Babout et coll. (renforts en zircone) de montrer que la quantité d’amorçage mesurée en surface au cours d’essais in situ est beaucoup plus faible que celle mesurée avec la même sensibilité mais au cœur des échantillons. Dans le cas des travaux de Babout et coll. ...

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BIBLIOGRAPHIE

  • (1) - FELDKAMP (L.A.), DAVIS (L.C.), KRESS (J.W.) -   *  -  J. Opt. Soc. Am., 1, no 6, 612-619 (1984).

  • (2) - CLOETENS (P.), LUDWIG (W.), GUIGAY (J.P.), BARUCHEL (J.), SCHLENKER (M.), VAN DYCK (D.) -   Phase contrast tomography  -  . In : X-ray tomography in materials science. Baruchel, Buffière, Maire, Merle et Peix (éd.), p. 115-125, Hermès (2000).

  • (3) - CLOETENS (P.), PATEYRON-SALOMÉ (M.), BUFFIÈRE (J.-Y.), PEIX (G.), BARUCHEL (J.), PEYRIN (F.), SCHLENKER (M.) -   *  -  J. Appl. Phys., 81, 9 (1997).

  • (4) - NUZZO (S.), PEYRIN (F.), CLOETENS (P.), BARUCHEL (J.), BOIVIN (G.) -   Quantification of the degree of mineralization of bone in three dimensions using synchrotron radiation micro-tomography  -  . Med. Phys., 29, 2672-2681 (2002).

  • (5) - DOWKER (S.E.P.), ELLIOTT (J.C.), DAVIS (G.R.), WILSON (R.M.), CLOETENS (P.) -   Synchrotron X-ray microtomographic investigation of mineral concentrations at µm-scale in sound and carious enamel  -  . Caries Research (2004).

  • ...

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