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Images et signatures V (z)
Microscopie acoustique
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Images et signatures V (z)
Microscopie acoustique

Auteur(s) : Jacques ATTAL

Date de publication : 10 mars 1998

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Présentation

1 - L’imagerie acoustique

  • 1.1 - Champ lointain et champ proche
  • 1.2 - Avantages des ultrasons

2 - Principe du microscope acoustique à balayage mécanique

3 - Lentille de focalisation

4 - Images et signatures V (z)

5 - Les applications

6 - Perspectives d’avenir

Sommaire

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Auteur(s)

  • Jacques ATTAL : Professeur à l’université des Sciences et Techniques du Languedoc (Montpellier II) - Directeur du laboratoire d’Analyse des Interfaces et de Nanophysique (LAIN), associé au CNRS

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INTRODUCTION

Après plus de vingt années environ d’existence, la microscopie acoustique est entrée dans son âge mûr, essaimant autour d’elle d’autres techniques microacoustiques qui ont vu le jour et sont en train de se développer. Son ouverture dans le domaine du test non destructif des matériaux est, à présent, chose acquise et la complexité des structures examinées est de plus en plus fréquente. Beaucoup d’instruments de ce type opèrent en routine sur sites industriels demandant des contrôles rigoureux de qualité, ainsi qu’en laboratoire de recherche universitaire, visant sans cesse à élargir le champ des applications exigeant toujours plus de performances.

La récente progression des techniques de champ proche n’a pas épargné l’acoustique, qui, paradoxalement, au départ en était une (acoustique aérienne, acoustique musicale).

L’essor des microtechniques a fortement aidé à développer de nouveaux concepts d’instruments, en permettant une approche acoustique différente mais complémentaire des techniques de microscopie classique.

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DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-r1402

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4. Images et signatures V (z)

Ces deux notions complémentaires sont apparues au fil du développement de l’instrument, copiant un peu l’évolution des tech-niques de microscopie électronique. Les informations provenant du capteur sont enregistrées et analysées de manière différente, ce qui laisse des possibilités de recoupement possibles, afin de faciliter l’interprétation des résultats.

L’imagerie en mode C, c’est-à-dire par plans parallèles à la surface, a été développée la première mais rapidement, la nature plutôt qualitative des observations a cédé le pas à une analyse quantitative. Essayons d’analyser la complexité des phénomènes. Le capteur focalisé génère un faisceau acoustique fortement convergent qui va frapper la surface de l’objet. Tout comme en optique, on assiste à une conversion de modes, les plus classiques étant les modes réfléchis et transmis, mais il en existe, en acoustique, bien d’autres connus sous l’appellation modes de surface et d’interface. Tous ces modes vont avoir un comportement et une interaction différentes avec le matériau à observer, que nous pourrons grossièrement classer en deux grands types : volume et surface.

4.1 Modes de volume

Le premier type concerne la focalisation des ondes de volume et n’appelle aucune remarque particulière, excepté que les modes qui y participent, le plus souvent, sont longitudinaux et quelquefois transversaux ; ils obéissent aux mêmes règles de réfraction qu’en optique pour les matériaux transparents. La différence fondamentale est que la vision acoustique de la profondeur peut se faire sur des matériaux optiquement opaques et les informations qu’on en retire sont bien souvent très difficiles, voire impossibles, à obtenir par d’autres techniques non destructives. Les applications que nous verrons plus loin illustrent les potentialités de la technique.

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4.2 Modes de surface

Le second type concerne l’utilisation de la propagation des modes de surface évanescents plus spécifiques à l’acoustique, bien que les techniques de champ proche les utilisent aujourd’hui sous une forme plus ou moins différente. Contrairement aux cas précédents, c’est en défocalisant l’objet vers la lentille...

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Sommaire

BIBLIOGRAPHIE

  • (1) - SOKOLOV (S.Y.) -   An ultrasonic microscope  -  . J. Tech. Phys. Russie 19 (1949) pp. 271-273.

  • (2) - LEMONS (R.A.), QUATE (C.F.) -   Acoustic microscope-scanning version  -  . Appl. Phys. Lett. 24 (1973) pp. 163-165.

  • (3) - BRIGGS (A.) -   Acoustic Microscopy  -  . Éd. Clarendon Press. Oxford (1992).

  • (4) - KINO (G.S.) -   Fundamentals of scanning systems. Scanned Imaging Microscopy  -  . Éd. E. Ash Academic Press. London (1980) p. 1-21.

  • (5) - QUATE (C.F.), ATALAR (A.), WACKRAMASINGHE (H.K.) -   Acoustic microscopy with mechanical scanning  -  . A review IEEE, 67 (1979) p. 1 092-1 114.

  • (6) - BERTONI (H.L.) -   Ray optical evaluation of V (z) in the reflection acoustic microscope  -  . IEEE Trans. Son. Ultras SU 31 (1984) p. 105-116.

  • ...

1 Thèse

* - http://www.sudoc.abes.fr

EYRAUD (V.) - Caractérisation par microscopie acoustique en régime impulsionnel de matériaux mis en forme. - Sciences et Techniques : PARIS 7 (2000).

LEMATRE (M.) - Contribution de la microscopie acoustique à la caractérisation des matériaux. - Physique : Valenciennes (2000).

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2 Organismes

Université de Montpellier II. Laboratoire d’Analyse des Interfaces et de nanophysique UPRESA 5011 CNRS. http://www.lain.univ-montp2.fr

Centre national de la recherche scientifique. Département des Sciences pour l’Ingénieur (SPI). http://www.spi.cnrs-dir.fr

Ministère de la recherche scientifique et technique http://www.recherche.gouv.fr

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3 Constructeurs (liste non exhaustive)

Matec Instrument http://www.matec.com

Sonix (représentant : Microtron Advanced Technology) http://www.sonix.com

Biosonic http://www.biosonic.org

Quality Material Inspection Inc. http://www.qmi-inc.com

Honda...

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