- Article de bases documentaires
|- 10 déc. 2024
|- Réf : R62
A l’occasion du 50 e anniversaire de l'accréditation des laboratoires d'étalonnage le 1 er Juillet 2023 et du 30 e anniversaire du Cofrac le 29 avril 2024, cet article précise le rôle du Cofrac au sein de l'organisation de la métrologie en France. Créé en 1994, le Cofrac a pour mission d’attester, en France et à l'international, que les organismes qu’il accrédite sont compétents et impartiaux. Le décret n°2008-1401 fait du Cofrac l'unique instance nationale d’accréditation. L'accréditation concerne les organismes évaluateurs de la conformité dont des laboratoires, des organismes d’inspection et des organismes certificateurs. A ce jour, 300 laboratoires d’étalonnage sont accrédités.
- Article de bases documentaires
|- 10 oct. 2024
|- Réf : R6333
L’interférométrie à balayage de phase est la méthode la plus répandue pour la caractérisation de surfaces optiques, telles que les miroirs utilisés sur les installations laser, les lignes de lumière des synchrotrons, ou bien encore pour les applications en astrophysique. Le Réseau Optique et Photonique (ROP) de la Mission pour les Initiatives Transverses et Interdisciplinaires (MITI) du CNRS, a créé un groupe de travail sur la métrologie comparative, notamment en interférométrie à balayage de phase. Cinq laboratoires issus du milieu académique (CNRS, CEA et universités) se sont associés afin d’évaluer leurs capacités en métrologie interférométrique.
- Article de bases documentaires
|- 10 sept. 2025
|- Réf : R6743
La poursuite du développement des nanotechnologies et des nanomatériaux nécessite de pouvoir disposer de résultats de mesure fiables et comparables, permettant : - la mise en place d’un contrôle qualité robuste pour l’amélioration des processus de production industrielle ; - de répondre aux exigences de la réglementation ; - s’assurer de l’innocuité des nanoproduits présents sur le marché. La nanométrologie, science des mesurages à l’échelle du nanomètre, a donc un rôle central à jouer. Dans ce domaine, les progrès ne seront possibles que lorsque l’offre en nanomatériaux et nanostructures de références sera élargie. Cet article fait un état des lieux des matériaux de référence disponibles à l’échelle nanométrique et décrit aussi les besoins dans deux domaines prioritaires : l’industrie des nano-objets (nanoparticules par exemple) et la nanoélectronique. De nombreuses grandeurs sont concernées, mais les besoins se concentrent en premier lieu autour de la métrologie dimensionnelle. Après une introduction sur les définitions et l’importance des matériaux de référence en métrologie, l'article rappelle les enjeux et les difficultés liés aux mesures de taille de nano-objets et de nanostructures.
