Conclusion
Caractérisation des polymères par microscopie électronique

Par le passé, le MET était la seule technique adaptée à l’observation directe d’objets nanoscopiques comme les lamelles d’un polymère semi-cristallin ou les fibrilles dans une craquelure. À présent, des techniques à sonde balayée comme l’AFM et le MEB commencent à rivaliser avec lui sur ce plan. Le potentiel du MEB, en particulier, dépasse petit à petit son rôle traditionnel comme outil de faible grossissement et de grande profondeur de champ, tout en conservant l’avantage d’une préparation d’échantillons relativement facile. Cependant, le MEB et l’AFM sont principalement des techniques de surface et le MET reste indispensable pour l’étude de l’organisation tridimensionnelle locale des polymères par diffraction et imagerie simultanée, par exemple. D’ailleurs, les MET modernes offrent des possibilités d’imagerie et d’analyse avec une résolution spatiale et une sensibilité nettement supérieures...