Préparation des échantillons
Métrologie hybride AFM/SEM pour mesurer la dimension de nanoparticules

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Préparation des échantillons
Métrologie hybride AFM/SEM pour mesurer la dimension de nanoparticules

Auteur(s) : Loïc CROUZIER, Nicolas FELTIN, Alexandra DELVALLÉE

Date de publication : 10 décembre 2020 | Read in english

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5. Préparation des échantillons

5.1 Considération sur le nombre de particules à compter

Comme pour l’ensemble des techniques de mesure directes, les particules imagées et mesurées ne représentent qu’une infime partie de la population étudiée. Ainsi, il est indispensable de se questionner sur la représentativité de la population réellement mesurée. De manière évidente, plus le nombre de particules imagées est important plus la population sera représentative de l’échantillon. Cependant, pour des aspects pratiques, le nombre de particules imagées doit rester limité car mesurer plusieurs milliers de particules nécessite d’effectuer des images sur des durées longues. Par conséquent, il est nécessaire de déterminer l’erreur liée au nombre limité de particules mesurées.

Cette dernière a été...

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