5. Effets secondaires induits
5.1 Échantillons électriquement isolants
Pour les échantillons de faible conductance électrique, le cumul des charges apportées par le faisceau, localisé en surface, peut mener à des décharges vers le support conducteur ou les parois de la chambre d’analyse elle-même. Ces décharges sont des sources d’émission d’un continuum X, via l’accélération/décélération violente d’électrons secondaires dans le plasma induit, qui vient se superposer au spectre X. Ce bruit de fond parasite apparaît en général sur l’ensemble du spectre mais devient la source dominante dans la région de haute énergie, ce qui dégrade énormément le rapport signal sur bruit dans cette zone. Il suffit en général, pour éviter tout problème, de relier la surface de l’échantillon isolant au support à l’aide d’un bon conducteur,...
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