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Techniques d'analyse / Référence TI630

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Émission X induite par particules chargées (PIXE) : applications

Référence P2558 | Date de publication : 10 mars 2004 | Philippe MORETTO, Lucile BECK

3. Comparaison avec d’autres modes d’excitation

L’émission X peut être induite par différentes sondes excitatrices : particules chargées lourdes comme les protons ou particules alpha (PIXE), électrons (EPMA, EDX), photons X et enfin photons gamma issus de sources radioactives. Chacune des techniques d’analyse qui en résultent présente un intérêt spécifique comme sa sensibilité analytique, une grande accessibilité par une large communauté scientifique ou bien encore parce qu’elle peut être mise en œuvre à l’échelle microscopique. Sur ce dernier point, les techniques basées sur l’utilisation de photons gamma ou l’utilisation de photons X issus de tubes classiques à rayons X (XRF) ne peuvent rivaliser avec les sources de rayonnement synchrotron (SXRF) aux faisceaux beaucoup plus brillants.

3.1 Utilisation des photons X (XRF et SXRF)

Chronologiquement, les photons X constituèrent la première sonde utilisée, ces derniers étant issus de tubes X classiques. Cette technique (XRF) est aujourd’hui assez répandue sous la forme d’appareils commerciaux vendus clés en main et facilement exploitables. Pour plus de détails se reporter dans ce traité à l’article...

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