1. Instrumentation
Les méthodes d’analyse par faisceau d’ions sont basées sur l’emploi d’accélérateurs de particules chargées de basse énergie. Ces accélérateurs, de taille modeste, produisent des ions légers (1H+, 2D+, 3He+, 4He+...) accélérés jusqu’à des énergies comprises entre 250 keV et 5 MeV. L’interaction entre les ions et la cible à analyser a généralement lieu dans une enceinte d’analyse sous vide bien que certains dispositifs permettent l’analyse à l’air. Le rayonnement X émis est ensuite détecté et analysé suivant les principes de la spectrométrie X classique [109].
Le dispositif expérimental type pour l’analyse PIXE (figure 1) comporte :
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un faisceau d’ions produit par un accélérateur. Les ions sont ensuite sélectionnés en masse et énergie par un aimant d’analyse qui permet d’obtenir un faisceau de particules monoénergétiques
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