Mesure des contraintes résiduelles par diffraction des rayons X
Extensométrie

1 - Généralités : la mesure des contraintes

• 1.1 - Définition de l’extensométrie
• 1.2 - Rappel sur la théorie de l’élasticité
• 1.3 - Fondements des méthodes usuelles de mesure des contraintes
• 1.4 - Notion de base de mesure
• 1.5 - Nombre des mesures à faire autour d’un point
  Figure 1 - Influence de la longueur de base sur la mesure de la déformation
• 1.6 - Détermination des directions principales
  Figure 2 - Cercle de Mohr des déformations Figure 3 - Détermination des directions principales à l’aide du cercle de Mohr des déformations Figure 4 - Disposition inclinée des isostatiques, révélée par l’essai de craquèlement dans une poutre d’assemblage en flexion composée sur trois appuis
• 1.7 - Revêtements extensométriques

2 - Jauges résistives et extensomètres

• 2.1 - Extensomètres transposables
  Figure 5 - Amplification à transformateur différentiel
• 2.2 - Jauges extensométriques
  Figure 6 - Extensomètre électro-acoustique Telemac Figure 7 - Jauge à trame Figure 8 - Pont de Wheatstone Figure 9 - Résistances parasites Figure 10 - Procédé de la jauge de compensation : principe Figure 11 - Jauge autocompensée Figure 12 - Courbes de déformation apparente sur un échantillon d’acier Figure 13 - Variation du facteur de jauge en fonction de la température Figure 14 - Courbe de température de la jauge en présence de contraintes mécaniques et thermiques Figure 15 - Dimension et emplacement de la jauge mal choisis Figure 16 - Courbes de fatigue d’alliages utilisés pour la fabrication des jauges

3 - Extensométrie par revêtements

• 3.1 - Revêtements à réseaux de moiré
  Figure 17 - Principe du dépouillement des franges de moiré
• 3.2 - Revêtements photoélastiques
• 3.3 - Comparaison entre les deux sortes de revêtements

4 - Mesure des contraintes résiduelles par diffraction des rayons X

• 4.1 - Fondements et limites de validité de la méthode
  Figure 18 - Principe de la méthode de mesure de la contrainte ...
• 4.2 - Procédés expérimentaux
  Figure 19 - Pic de diffraction de rayons X
• 4.3 - Application à la détermination in situ des contraintes résiduelles

5 - Interférométrie holographique et moirés de granulation

• 5.1 - Interférométrie holographique
  Figure 20 - Principe de l’holographie Figure 21 - Observation directe d’un hologramme
• 5.2 - Moirés de granulation