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Matériaux composites en électromagnétisme - Matériaux absorbants radarArticle de référence | Réf : E1167 v2
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Auteur(s) : André DE LUSTRAC, Gérard-Pascal PIAU
Date de publication : 10 févr. 2019
Relu et validé le 01 oct. 2020
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Dès 1940, Von Hippel définissait les techniques de mesure des matériaux homogènes. Ces techniques comprennent les techniques guidées (guide d'onde rectangulaire, guide coaxial, guide ouvert, ligne microruban, triplaque, etc.), les cavités, les résonateurs ouverts ou fermés et les techniques en espace libre. Ces dernières n'ont été implantées que ces quarante dernières années, après que les constructeurs de matériel eurent défini et réalisé des sources hyperfréquences très stables et des récepteurs très sensibles et à grande dynamique. On pourrait ajouter les techniques de mesure de surface équivalente radar conduites en chambre anéchoïque et le contrôle non destructif des matériaux.
Les travaux de Von Hippel ont conduit à des normes de mesure pour les matériaux homogènes. Ces normes, définies par le comité D9 ASTM sont inscrites dans le livre annuel de 1989 des standards ASTM, vol 10-02, isolation électrique II. Elles concernent les méthodes en lignes TEM (norme D150), les guides d'onde (D2520A) et les cavités (D2520 B).
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ÉLECTRONIQUE
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(1) - VON HIPPEL (A.R.) - Dielectric materials and applications. - Wiley New York 1954. Et Von Hippel (A.R.). – Dielectric and waves. Wiley New York (1954).
(2) - MAURENS (M.), PRIOU (A.), BRUNIER (P.), AUSSUDRE (S.), LOPEZ (M.), COMBES (P.) - Free-space microwave measurement technique for composite materials. - PIERS vol. 6, Special Issue of Dielectric Properties of Heterogeneous Materials, Guest Editor : A. Priou, Elsevier (1992).
(3) - NICOLSON (A.M.), ROSS (G.F.) - Measurement of the intrinsic properties of materials by time domain techniques. - IEEE Trans. Instrum. Meas., vol. IM-19, pp. 377-382 (1970).
(4) - WEIR (W.B.) - Automatic measurements of complex dielectric constant and permeability at microwave frequencies. - Proc. of IEEE, vol. 62, n° 1, p. 33 (1974).
(5) - SMITH (D. R.), VIER (D. C.), KOSCHNY (Th.), SOUKOULIS (C. M.) - Electromagnetic parameter retrieval from inhomogeneous metamaterial. - Phys. Rev. E 71, 036617 (2005).
ONERA : http://www.onera.fr/
ONERA (Toulouse) : http://www.onera.fr/centres/toulouse
CEA/CESTA : http://www.cea.fr/le_cea/les_centres_cea/cesta
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C2N, université Paris Sud, CNRS :
https://www.c2n.universite-paris-saclay.fr/fr/
GeePs, université Paris Sud, Centrale, Supelec :
IETR, université de Rennes III :
IMP, CNRS, université de Lyon :
Institut Fresnel, université de Marseille :
Lab-STICC, université de Bretagne Occidentale :
http://www.univ-brest.fr/electronique/menu/Recherche/Le-Lab-STICC
LEME, université Paris Nanterre :
https://leme.parisnanterre.fr/
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