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Dispositif innovant de stabilisation de la polarisation de la lumièreArticle de référence | Réf : AF3458 v1
Auteur(s) : Claude AMRA, Carole DEUMIÉ
Date de publication : 10 juil. 2009
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Optique Photonique (213 articles en ce moment)
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La plupart des systèmes optiques modernes requièrent des pertes totales inférieures à quelques 10–4 du flux incident. Pour limiter la diffusion (figure 1), les surfaces sont polies avec soin, jusqu'à l'obtention d'une fraction de nanomètre sur certains matériaux comme le silicium ou le verre. Ces états de surface sont ensuite caractérisés par une mesure de diffusion angulaire qui permet, via la modélisation, d'en extraire les premiers moments statistiques.
1.1 Paramètres descriptifs de l'état de surface
On considère un dioptre rugueux décrit par une fonction :
comme illustré en figure 2a.
Sa rugosité δ est donnée par l'écart quadratique moyen :
avec :
On utilise également la fonction d'autocorrélation
définie comme :
avec :
On verra que ces paramètres sont extraits de mesures obtenues dans le plan de Fourier, ce qui amène à introduire la densité spectrale de puissance (ici de rugosité),...
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(1) - COULON (G.) - Imagerie de surface des polymères : microscopie à force atomique. - [AM 3 280] Base documentaire « Plastiques et Composites » (2000).
(2) - RIVOAL (J.-C.), FRETIGNY (C.) - Microscopie à force atomique (AFM). - [R 1 394] Base documentaire « Mesures mécaniques et dimensionnelles» (2005).
(3) - CALLET (P.) - Couleur et apparence visuelle. Le transparent et l'opaque. - [AF 3 252] Base documentaire « Physique-Chimie » (2004).
(4) - GAY (J.-M.) - Structure de surface des solides. - [A 1 365] Base documentaire « Physique-Chimie » (1996).
(5) - VAN LABEKE (D.) - Microscopie optique en champ proche. - [P 862] Base documentaire «Techniques d'Analyse » (1998).
(6) - RAPHET (B.) - États...
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Références du texte
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AMRA (C.) - Light scattering from multilayer optics. I . Tools of investigation. - J. Opt. Soc. Am. A, 11, p. 197 (1994).
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MAURE (S.) - ALBRAND (G.) - AMRA (C.) - Low-level scattering and localized defects. - Appl. Opt., 35 , p. 5573-5582 (1996).
DEUMIÉ (C.) - GIOVANNINI (H.) - AMRA (C.) - Ellipsometry of light scattering from multilayer coatings. - Appl. Opt., 35, p. 5600-5608 (1996).
GILBERT (O.) - DEUMIÉ (C.) - AMRA (C.) - Angle-resolved ellipsometry of scattering patterns from...
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